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尼得科推出面向半導體及印刷電路板的AI檢測與測量解決方案——外觀檢測設備“AURCA”系列

http://m.henanjusheng.com 2026-05-18 11:27 來源:尼得科

尼得科精密檢測科技株式會社(以下簡稱“本公司”)將開始銷售用于電子電路板和半導體硅晶圓的AI檢測與測量解決方案——外觀檢測設備“AURCA”系列。

■ 產品開發(fā)背景

隨著近年來由AI引領的電子設備市場不斷擴大,對日益微細化、復雜化的半導體制造工藝提出了高可靠性要求。此次,作為解決制造現(xiàn)場課題的解決方案,我司開發(fā)了“AURCA”系列外觀檢測設備,以應對如傳統(tǒng)圖像檢測方法難以檢測的缺陷以及提高良率等課題。

AURCA”系列的特點

1.高精度缺陷檢測(AI圖像處理)通過我們獨有的AI算法,能夠高精度地檢測出傳統(tǒng)檢測方法難以識別的細微缺陷和異常。

2.全彩色光學檢測通過基于高水平光學設計的全彩色圖像采集,準確捕捉目標物體的材質和高度變化,大幅減少誤檢。

3.多光源圖像單次掃描同時處理:根據(jù)待檢測缺陷優(yōu)化配置多個光源進行同步掃描,瞬時檢測所有類型的缺陷。

AURCA系列提供的價值

“AURCA”不僅限于檢測不良品,還通過AI的高級測量和分析數(shù)據(jù),為制造現(xiàn)場的良率改善做出貢獻。

1.分析缺陷的“真因”:詳細分析AI檢測到的缺陷形狀和發(fā)生趨勢。不僅限于簡單的合格與否判斷,還支持闡明“為何會發(fā)生該缺陷”的機制。

2.向制造工序的直接反饋:通過將分析結果迅速反饋給前道工序,有助于重新審視制造工序和制定預防措施。

3.實現(xiàn)持續(xù)提升良率的循環(huán)通過持續(xù)運行“檢查→分析→反饋→工藝改進”這一循環(huán),最大限度地提高客戶工廠的整體良率,為降低制造成本和提高產品可靠性做出重大貢獻。

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