國家質檢總局蒲長城副局長考察中國計量科學研究院
http://m.henanjusheng.com 2008-12-15 10:39 來源:互聯網
12月9日上午,國家質檢總局副局長蒲長城到中國計量科學研究院昌平院區(qū)考察指導,并重點參觀了長度計量研究室,聽取了計量院與潘福來專業(yè)照相機有限公司共同研發(fā)的三維數字化攝像測量及校準標準裝置的階段成果匯報。
蒲長城對計量院基于國內外出現的大量高精度三維攝影測量設備和三維工業(yè)測量系統(tǒng)無法溯源問題而開展的研究工作給予充分肯定。他指出,該項目是以文物藏品的三維高精度攝影測量系統(tǒng)的校準需求和制造業(yè)發(fā)展對精密測量的溯源技術要求為切入點提出的,是以社會需求確定研究目標,以市場要求為導向,并與用戶緊密結合的研發(fā)項目,值得提倡和推廣。
蒲長城針對計量院當前面臨的形勢,提出了3點要求:一是要進一步轉變視角,擴大視野,密切關注國家經濟、社會和科技發(fā)展的新需求,堅持“有所為有所不為”的方針,突出重點,做好技術儲備;二是要根據測量技術水平發(fā)展對計量提出的越來越高的要求,在現有基礎上不斷提升和擴展測量的服務能力;三是要探索研究方式,堅持產學研相結合,注重研發(fā),做到測量裝置和計量校準標準研究緊密結合,做到需求與研發(fā)要同步發(fā)展。