集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介
·器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判別其邏輯功能好壞。
·器件型號(hào)識(shí)別：當(dāng)不知被測(cè)器件的型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號(hào)。
·器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
·器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。
·內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對(duì)內(nèi)部緩沖區(qū)進(jìn)行多種編輯。
·微機(jī)通訊：儀器可通過串行口接受來自微機(jī)的數(shù)據(jù)或?qū)?nèi)部RAM緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)傳送到微機(jī)。
·ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
·ROM器件寫入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫入到128K以內(nèi)的ROM器件中。
集成電路測(cè)試儀適用范圍
·維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
·破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。
·燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。
·開發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
·檢驗(yàn)新購器件的質(zhì)量。
集成電路測(cè)試儀可測(cè)器件種類
·TTL74、54系列。
·TTL75、55系列。
·CMOS40、45、14系列。
·單片機(jī)系列。
·EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
·光耦合器，數(shù)碼管系列。
·常用微機(jī)外圍電路系列。
·其它常用電路及用戶提供系列。
·運(yùn)算放大器系列（單運(yùn)放、雙運(yùn)放、四運(yùn)放）。
·三端穩(wěn)壓器系列（78XX，79XX，317，337）。
