系統(tǒng)優(yōu)點
檢測顆粒≥1um
自動測量并計算出單個顆粒的面積、寬度、內切圓、分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等尺寸
高精度XYZ三軸自動掃描臺，可執(zhí)行自動聚焦功能
高分辨率專用數(shù)字采集系統(tǒng)500萬級別以上CCD攝像頭
單張濾膜檢測及5μm以上顆粒的掃描時間和評價時間最小1分鐘
自動調節(jié)光強、自動聚焦、多視場自動掃描、自動采集圖像、自動顆粒統(tǒng)計分析
自動辨別金屬顆粒、非金屬顆粒
自動查詢最大顆粒的粒徑和數(shù)量
在硬件支持條件下軟件終身免費升級服務
參數(shù)闡述
型號：PLD-MPCS2.0~10.0
儀器性能：測試范圍: 1-500μm系統(tǒng)放大倍數(shù)：40～l000X倍
zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數(shù)字攝像頭(CCD)：300萬像素
標尺刻度：0.1μm
分析項目：粒度分布、長徑分布、圓形度分布等
自動分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%
軟件運行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
