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UHF RFID的系統(tǒng)由讀寫器、天線、RFID標簽組成。
因素一：讀寫器發(fā)射功率
讀寫器發(fā)射功率越大，讀寫距離相應得也會增大。
因素二：讀寫器天線增益和波束寬度
天線增益越大，波束寬度越小，則讀寫距離越遠，范圍越窄，讀取的范圍控制越好。
因素三：讀寫器與標簽的靈敏度
標簽芯片與讀寫器的靈敏度均能影響到讀寫距離，靈敏度越高，可讀寫距離就會越遠。
因素四：多標簽數(shù)量
多標簽環(huán)境下，單位時間內RFID讀取的標簽數(shù)量也會影響到讀寫器的多標簽讀寫性能。
因素五：讀寫器對碰撞問題的處理算法
一般來說，標簽存在以下兩種碰撞問題：
1、多標簽碰撞：多個標簽與一個讀寫器通訊時產(chǎn)生的碰撞，出現(xiàn)此種情況時可以通過調整讀寫器自身的防碰撞算法來解決。
2、多讀寫器碰撞：多個讀寫器同時與一個標簽通訊時產(chǎn)生的碰撞，通過將讀寫器設置成不同的session(通話)和標簽進行通信或者測試時關閉其他讀寫器即可解決。
因素六：標簽粘貼物材質
金屬和液體會對電磁波產(chǎn)生影響，需要采用特殊設計的抗金屬標簽和抗液體標簽：
液體應用——必須采用特殊設計的液體標簽；
金屬表面——必須使用抗金屬標簽；
如遇到這兩種材質的標簽也可以采用立標——標簽不直接粘貼到金屬或液體容器表面，芯片和天線部分與容器不接觸，同時在液體和金屬應用中需要注意物品的擺放方式，堆疊過多會導致內層讀取率低。
因素七：測試環(huán)境
RFID性能測試建議在空曠的環(huán)境中進行，讀寫器天線與標簽之間存在金屬或液體之類的障礙物、環(huán)境中存在與頻率接近的電磁干擾等都會影響測試性能。
首先要確認測試環(huán)境中是否有金屬障礙物干擾，如金屬網(wǎng)，密集的金屬網(wǎng)會對UHF信號產(chǎn)生屏蔽作用，造成較大衰減，導致無法讀取標簽信息。
其次，如果在貨物滿倉的庫房中則需要考慮貨物性質（金屬、液體、服裝等）是否會影響電磁波，也需要避免多層堆放，同時RFID設備應與其他物品保持距離，避免串讀。
以上是影響RFID系統(tǒng)測試性能的若干因素，如果您在測試過程中遇到性能受影響的情況，不妨對照檢查，希望能讓您的RFID測試過程更加順暢！
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